本款測試座是翻蓋結構；適配芯片規格：QFN封裝、32pin；引腳間距：0.4mm；芯片規格尺寸4x4mm
有帶板和不帶板選擇
QFN32-0.4翻蓋彈片測試座
產品簡介
產品用途:編程座、測試座，對QFN32的IC芯片進行燒寫、測試
適用封裝: QFN32引腳間距0.4mm
測試座: QFN32-0.4
規格尺寸
型號: QFN-32-0.4
引腳間距(mm): 0.4
腳位:32
芯片尺寸:4*4mm
