LCR-T4 測試儀 顯示屏 (不含殼、不含電池)，圖形化晶體元件檢測模組(可測電阻.電容.電感.晶體
LCR-T4 圖形化 電晶體測試儀 電阻電容 ESR 可控矽外殼 電池顯示屏
PCB尺寸：63*71 mm 重量：48g 左右
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資料連結: https://pan.baidu.com/s/18jKLMTOsKQfriSj4Mtzd0g
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LCR-T4 圖形化多功能測試儀電阻+電容+二極體+可控矽+電感+三極管+mos管
液晶為12864液晶顯示器，附背光，背光顏色一般為黃綠色。
供電為9V 層疊電池。如果長時間供電，可以用2個鋰電池組成8.4V的電池組供電。
功能
*新增開機電壓偵測功能
*自動偵測NPN和PNP電晶體，N通道和P通道MOSFET，二極體（包括雙二極體）、閘流管、三極管、電阻器和電容器等元件，
*自動測試出元件的引腳，並顯示在液晶上
*可以偵測電晶體、MOSFET保護二極體等的放大係數和基數的確定發射極電晶體的正向偏壓
*測量閘極閾值電壓和閘電容的MOSFET
*顯示器使用12864 LCD 液晶（128 * 64個字元）
*較高的測試速度，有效期組件測試：在2秒（除在較大的電容器，大電容的測量還需要較長時間，測量的時間為1分鐘是正常的）
*一鍵操作，開機測試，一鍵搞定。
*耗電量關閉模式：小於20 nA的
*自動關機功能，可以避免不必要的浪費，節省電池能量，並提高續航時間。
*******以下功能針對M8 版和M168 高級版版本有所不同****請大家依照自己的需求選擇*********
1．採用ATmega8，ATmega168或ATmega328微控制器。
2．2x16字元液晶顯示器顯示結果。
3．一鍵操作，自動關閉電源。
4．關斷電流只有20nA，支援電池操作。
5．低成本的版本不用晶振，支援自動關閉電源。 1.05k版本軟體的ATmega168或ATmega328在沒有測量時用睡眠方式來降低電源消耗。
6．自動偵測PNP和NPN型雙極電晶體，N、P通道MOSFET，JFET，二極管，雙二極管，閘流管可控制矽。
7．自動偵測引腳佈局。
8．測量雙極型電晶體的電流放大係數和發射結的閾值電壓。
9．達林頓電晶體可以透過高閾值電壓和高電流放大係數來識別。
10．對雙極型電晶體，MOSFET的保護二極體的偵測。
11．測量MOSFET的閾值電壓和閘極電容值。
12．支援兩個電阻的測量和符號顯示，最高四位數字和單位顯示。顯示的電阻符號兩端是連接的測試器探針編號（1-3）。所以電位器也可以測量。如果電位器調整到它的一端，測試器不能分辨中間和兩端的引腳。
13．電阻測量的分辨率是0.1歐姆，最高測量值50M歐姆。
14．可以被檢測和測量一個電容器。最高四位數字和單位顯示。數值可以是從25pf（8MHz時鐘，50pF@ 1MHz的時鐘）到100mF。解析度可達1 pF（@ 8MHz時鐘）。
15．可以對於2UF數值以上的電容器的等效串聯電阻（ESR）電容值來測量。解析度為0.01歐姆和顯示兩位數數值。此功能要求至少16K快閃記憶體ATMEGA（ATmega168或ATmega328）。
16．可以對兩個二極體顯示正確方向的符號。此外，顯示正向壓降。
17． LED偵測為二極體，正向壓降比正常高很多。雙發光二極體檢測為雙二極體。
18．齊納二極體可以被偵測到，如果反向擊穿電壓低於4.5V。這將顯示為兩個二極體，只能透過電壓確定。探頭圍繞二極體的符號是相同的，在這種情況下，你可以透過700mV附近的閾值電壓來識別二極體真正的陽極！
19． ****這條每年明白，不翻了****
如果超過3個二極體類零件檢測，建立二極管數目顯示另外失敗的訊息。這只會發生，如果二極體連接到所有的三探針和至少有一個是型二極體。在這種情況下，你應該只連接兩個探針和啟動測量再次，一個接一個。
20．測量單一二極體反向的的電容值。雙極型電晶體也還可以測量，如果你連接基極與集極或射極。
21．只需要一次測量找出全橋的連接。
22．數值低於25pf電容器通常檢測不到，但可以與一個二極體並聯或至少25pf電容器並聯。在這種情況下，你必須減去並聯電容值的部分。
23．電阻低於2100歐姆會測量電感，如果你的ATMEGA至少有16K快閃記憶體。範圍將從0:01mH超過20H，但精度不好。測量結果只顯示單一元件連接。
24．測試的時間是大約兩秒鐘，只有電容和電感測量會需要較長的時間。
25．軟體可以設定電源自動關閉前的測量次數。
26．內建自檢功能與可選的50Hz訊號檢查的時脈頻率準確性和等待調用（ATmega168和ATmega328）。
27．選用設備校準埠輸出的內阻和零失調自我檢測能力的測量（ATmega168和ATmega328）。需要一個100nF到20uF電容連接到接腳1和接腳3之間補償類比比較器的失調電壓。這可以減少40uF以上電容器的測量誤差。以相同的電容器內部校正電壓參考電壓被發現調整內部參考測量ADC的增益。
如果測試電流超過維持電流，可控矽和雙向可控矽可以被偵測到。但是有些半導體可控矽和雙向可控矽比該測試儀能提供的電流更高的觸發電流。可提供的測試電流僅約6mA！注意，所有功能僅用於有更多的程式記憶體的單晶片如ATmega168。
