產品說明0
BPI Open Debugger是一個燒寫工具的集合,在開發STM系列單片機，TI CC1x, 2x，TI CC3x系列SOC，STC系列單片機時，可以快速簡便地調試燒寫，不必為調試燒寫不同系列芯片而做一些繁瑣的切換插拔工作。另外，它也集成了USB轉串口，這是開發嵌入式一個常用的接口。同時它也是一個USB2.0的HUB，使得可以簡便地擴展其他USB工具。有了它，再也不需要面對一堆不同的燒寫器，繁亂的接線，USB口的不足。
操作環境：
工作電壓：直流5V
操作溫度：0°C-85 C°°
板載輸出電壓：3.3 V：
最大輸出電流：2000毫安
支持的操作系統：
微軟Windows 2000
Windows XP SP2和SP3（32位版本）
Windows Vista（32位和64位）
Windows 7（32位和64位）
Windows 8（32位和64位）
支持對象：
CC Debugger接口：
編程和調試以下8051為基礎的TI系統級芯片：
CC1110，CC1111
CC2430，CC2431
CC2510，CC2511
CC2530，CC2531，CC2533
CC2540，CC2541
CC2543，CC2544，CC2545
控制來SmartRF Studio中相同的設備。此外，還可以通過SmartRF控制以下收發器：
CC1120，CC1121，CC1125，CC1175
CC1100，CC1101，CC110L，CC113L，CC115L
CC2500，CC2520
它也可以被用來編程PurePath無線設備：
CC8520，CC8521
CC8530，CC8531
SWD接口：
編程和調試主流的ARM7911，Cortex-A5A8A9M0M1M3M4
支持的MCU的生產廠商：
ST，Freecale，Nuvoton，NXP，TI，Cypress，Atmel，Analog，Fujitsu，Toshiba，
Energy Micro等。
傳輸速度高達4Mhz的編程調試功能：編寫Flash Rom，EEPROM，ARF等，支持全速運行，單步調試，斷點調試。
JTAG接口：
編程調試所有支持JTAG接口的內核。
UART接口：
燒寫STC系列的單片機和用於調試時輸出串口打印信息
縮寫對照表：
| CSn | Chip Select (active low) |
| DC | Debug Clock |
| DD | Debug Data |
| RST | Debug Reset |
| DUT | Device Under Test |
| GND | Ground |
| LED | Light Emitting Diode |
| MISO | Master In Slave Out |
| MOSI | Master Out Slave In |
| RF | Radio Frequency |
| SCLK | Serial Clock |
| SoC | System-on-Chip |
| SPI | Serial Peripheral Interface |
| USB | Universal Serial Bus |
| Target | Positive voltage on target |
| CLK | SWD Clock |
| DIO | SWD DATA Input/Output |
| TMS | JTAG Test Mode Select |
| TCK | JTAG Test Clock Input |
| TDO | JTAG Test Data Output |
| TDI | JTAG Test Data Input |
| SRST | JTAGTest Reset Input, Active Low |
| RXD | USB Serial Input |
| TXD | USB Serial Output |
